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光谱仪
产品[
SpecEl 椭偏仪
]资料
点击看大图
产品名称:
SpecEl 椭偏仪
产品型号:
SpecEl-2000-VIS
产品厂商:
其它品牌
产品文档:
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简单介绍
SpecEl 椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量。
SpecEl 椭偏仪
的详细介绍
SpecEl
椭偏仪
SpecEl-2000-VIS
椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量。
集成的**测量系统
SpecEl
由一个集成的光源,一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成,并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜,并且折射率测量可达0.005%。
SpecEl
可通过电话问价。
SpecEl
软件及
Recipe
配置文件
通过SpecEI软件,你可以配置及存贮实验设计方法实现一键分析,所有的配置会被存入recipe文件中。创建recipe后,你可以选择不同的recipe来执行你的实验。
SpecEI
软件截图显示的
Psi
及
Delta
值可以用来计算厚度,折射率及吸光率。
配置说明
波长范围
:
380-780 nm (
标准
)
或
450-900 nm (
可选
)
光学分辨率
:
4.0 nm FWHM
测量精度
:
厚度
0.1 nm ;
折射率
0.005%
入射角
:
70°
膜厚
:
单透明膜
1-5000 nm
光点尺寸
:
2 mm x 4 mm (
标准
)
或
200 µm x 400 µm (
可选
)
采样时间
:
3-15s (
*小
)
动态记录
:
3 seconds
机械公差
(height):
+/- 1.5 mm,
角度
+/- 1.0°
膜层数
:
至多
32
层
参考
:
不用
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